전도성/비전도성/전도성 박막 구조에서 관찰되는 저항의 변화 현상은 차세대 메모리 소자로의 응용가능성 때문에 많은 주목을 받고 있다. 이 중 단극성 저항변화 현상에서는 비전도성 층 속에 전도성 길(path)이 형성 되는데 이렇게 형성된 전도성 길의 구조가 이 소자의 전기적 수송 현상과 밀접히 연관되어 있기 때문에 이 길의 구조를 이해하는 것은 매우 중요하다.
이번 연구에서 복잡계 네트워크 연구단(단장 강병남)의 이재성 박사는 동적으로 형성되는 percolation path의 구조가 보이는 보편적(universal) 축척현상을 이론적으로 제시하였고, 수치적 시뮬레이션으로 확인하였다. 또한 이를 기능성 계면 연구단(단장 노태원)의 이신범 학생 등이 실험적으로 확인하였다. 이 연구결과는 단극성 저항변화 현상을 이해하는 것 외에도 새로운 dynamic percolation 모형을 제시하고 이 모형의 다양한 통계적 성질을 밝힌 측면에서도 큰 의미를 갖는다. [Phys. Rev. Lett, 105, 205701 (2010)]